2006/02/24更新
○講義概要 |
前期のデバイス基礎の内容を理解していることを前提として、前半では、CMOSデジタル集積回路について講義する。トランジスタレベルから基本ゲートレベルの構造と動作原理について講義した後に、LSI設計論、低消費電力化技術、フラッシュメモリについて解説する。後半は、バイポーラトランジスタ(BJT)技術について、pn接合の基礎から詳細に議論し、MOSFETと比較しながら、BJTの特徴を解説する。最後に、BJTとCMOSを組み合わせたBiCMOS集積化技術について説明する。
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○評価方法 |
リアクションペーパー(30%)、後期学期末試験(定期試験期間中)(35%)、中間試験(35%)
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○授業計画 |
1 | 序論 集積回路の発展とスケール則 |
2 | CMOSダイナミック論理回路 基礎、ドミノ回路 |
3 | 集積回路設計技術 "スタンダードセル、FPGA、設計手順" |
4 | フラッシュ・メモリ FGFET、プログラム動作 |
5 | 低消費電力化技術 |
6 | 中間試験 |
7 | PN接合の理論(1) 半導体基本物性のおさらい |
8 | PN接合の理論(2) Fermi準位 状態密度、Fermi準位 |
9 | PN接合の理論(3) 電荷密度、電界、電位 空乏層容量、降伏、 |
10 | BJTの構造と動作原理 構造、動作モード、コレクタ電流 |
11 | BJTの電流電圧特性 ベース電流、電流増幅率 |
12 | BJTの小信号等価回路 gm、拡散容量、fTと高速化 |
13 | MOSFETとBJT BiCMOS |
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