2005年度上智大学シラバス
◆物理化学特論Ⅲ（回折法による結晶構造解析） － （前）
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山﨑 幹緒
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| ○講義概要 |
Ｘ線回折法は原子や分子の三次元配列を明らかにする手法の一つである。
本講ではＸ線回折の基礎を概説した後，主に単結晶Ｘ線構造解析について論じる。測定装置の原理から構造解析を行う上での必要な知識について説明し，簡単な既知低分子結晶を例に，測定から解析までを，実演を交えながら解説する予定である。
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| ○評価方法 |
出席状況(60%)
小テストまたはレポート提出を数回行う。
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| ○テキスト |
大場茂・矢野重信『Ｘ線構造解析 化学者のための基礎講座12』 朝倉書店・１９９９年
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| ○授業計画 |
| 1 | Ｘ線構造解析とは |
| 2 | Ｘ線の性質 |
| 3 | 結晶の対称性と逆空間（１） |
| 4 | 結晶の対称性と逆空間（２） |
| 5 | 構造因子と電子密度 |
| 6 | 単結晶の作成・マウント方法 |
| 7 | 回折装置の原理と測定方法（１） |
| 8 | 回折装置の原理と測定方法（２） |
| 9 | 構造の精密化（１） |
| 10 | 構造の精密化（２） |
| 11 | 構造の精密化（３） |
| 12 | 結果の評価 |
| 13 | タンパク質のＸ線構造解析 |
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By：上智大学学事部学務課
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